寻源内容:

1.主机要求

1.1主机构成：仪器由（略）光管、（略）射线发生器、样品室、探（略）、数据处理（略）、相关应用（略）、标准样品组成。

1.2测量范围：从（略）号（略）素Na到（略）号（略）素U。

1.3测量对象：固体、液体、粉末

1.4品牌 岛津 ，型号 ED（略）-LE Plus

2.计数器类型          

2.1非液氮冷却的半导体固体SDD计数器 

2.2（略）辨率：≤（略） eV（Mn的Kα线半高宽）

2.3制冷方式：电子制冷

3  （略）射线发生单（略）

3.1 （略）射线管

3.1.1靶材与功率：，Rh或Mo靶，功率≥（略）W

3.1.2冷却方式：电子制冷

3.1.3光管控制：（略）-光发射仅在（略）析样品时自动开启和关闭

3.2 （略）射线电源单（略）

3.2.1电压：5 - （略）kV

3.2.2电流：1 - （略）μA

3.2.3输出稳定性：±0.（略）%

3.2.4（略）：过电压、过电流、过负荷保护，防止（略）射线泄露保护

3.3 （略）射线滤光片      

5种（含OPEN为6种），自动交换

3.4 准直器        

至少四种类型，且最小直径小于等于1mm。

3.5 （略）射线警示装置

当（略）射线激发时，仪器外观会有自动显示预警提示；

当（略）射线关闭时，仪器恢复正常

4 计数部（略）

4.1 峰形调（略） ：数字处理

4.2 （略）数：（略）ch

4.4 计数率：≥1,（略）,（略）cps

5 控制部（略）

5.1 控制对象：（略）射线发生部（略）、计数部、样品装置、样品室盖

6 样品室与测定室单（略）

6.1 样品室          

6.1.1盖子：手（略）），测量开始或结束后，样品室盖门栓自动工作。

6.1.2 最大样品尺寸：（略）(W) x（略）(D) x （略）(H)mm

6.1.3样品室自动开启，样品盖子的结构设计有效避免（略）光的泄露，满足我国（略）射线的泄露控制标准。

6.1.4 测定氛围：大气

6.1.5 试样观察：CMOS图像装置

7 （略）

7.1 定性（略）析：测定、解析（略）

7.2 定量（略）析：标准工作曲线法、共存（略）素校正、FP法（基本参数法）、薄膜FP法、BG-FP法（厚度校正）

7.3 匹配（略）：自动校正功能（能量校正、强度校正、半高宽校正）

8（略），易耗品、备件、标准样件

8.1 配备两年的备件与易耗品。

8.2 计算机：主流品牌机，显示器：4G内存，（略）G以上硬盘，（略）寸（略）：Win （略）中文版；激光打印机。

8.3 （略）铝管标准样管和相应的标准成（略）曲线

9 安全：仪器四周一米内，（略）射线辐射量少于1µsv/h。

（略） 环境条件：    

电源电压 （略）V±（略）%   （略）Hz

温度 （略）-（略）℃  相对湿度（略）-（略）%

（略） 仪器配置：主机一台；电脑一台；打印机一台；

需求（略）截止时间: （略）-（略）-（略） （略）:（略）:（略）

联系人（略）系方式: （略）*********（略）

寻源单号: SOU（略）

需求交付时间: （略）-（略）-（略）

所属大类: 电子电器生产设备